焊點中空洞形成的機理及除氣泡方案
[發布日期:2023-04-20 14:32:14] 點擊:
焊點中空洞形成的機理多年來一直是研究的主題。已經確定了許多空洞類型和形成機制。最引人注目的是大空洞,大空洞形成的主要因素似乎是焊膏中的化學成分。
微空洞、收縮空洞和Kirkendall空洞也是眾所周知的和備有證據的空洞類型,但不屬于本文的討論范圍。多年來已建立了許多減少空洞形成的技術。
調整焊膏化學成分、回流焊溫度曲線、組件、PCB
和模板設計或涂飾,是當前正在廣泛使用的一些優化工具。甚至設備制造商也在提供減少空洞率的解決方案,通過掃頻或真空技術。然而,還有另一個非常重要的定義空洞形成的參數——焊接合金。
焊接合金:一個不同尋常的可疑因素,空洞形成的主要因素一直被認為是焊膏中的焊劑。設計一種能有效減少空洞的焊膏焊劑似乎是正確的方法,因為大約50%
的焊劑將在回流焊過程中會蒸發,從而產生空洞。由于焦點集中在焊膏焊劑上,直到現在,對不同焊料合金的空洞形成差異的研究一直沒有關注。
空洞水平的測定用標準的可焊合金, 建立了一個基線的空洞形成百分比,
如SnAg3Cu0.5(SAC305)、SnAg0.3Cu0.7(LowSAC0307)和Sn42Bi57Ag1。在本文中所描述的所有測試中都使用了相同的焊膏化學成分。
為了了解PCB 涂飾之間的水平差異,對業界常用的3 種涂飾進行了測試:
OSPCu、ENIG(NiAu)和I-Sn。為了有足夠的空洞產生,在焊盤沒有任何減小的情況下,使用了120
μm的模板。對每種焊膏,使用適合每一個具體焊料合金的標準加熱回流焊曲線,回流焊接60 個Sn 涂飾的QFN 元件。
對每個元件進行X
光檢查和接地平面的空洞水平測定,以確定空洞百分比。通過空洞面積與接地平面面積相比計算空洞百分比。沒有考慮單個空洞的大小。試驗結果表明,SAC305
和LowSAC0307 結果相當差。Sn42Bi57Ag1獲得較好的結果。
合金優化
基于這些試驗結果,從空洞性能的角度出發,建立了最佳焊接合金的研究方案。研究方案使用了TGA 分析和X-
射線分析。此外,還考慮了其他參數,如回流焊溫度曲線、屈服強度、粘性范圍、延伸率以及其他工藝參數。
研發戰略涉及從標準的無鉛焊料合金開始,并用錫、鉍、銀、鋅、銅等進行調整。這樣很快就產生了許多候選合金,TGA 分析被用作初始選擇工具。采用TGA
分析,可以監控在與某種合金相結合過程中焊劑化學成分的蒸發和回流焊溫度曲線。更平滑的蒸發曲線一般意味著較低的空洞形成水平。從這項研究中選擇了8
種原型焊料合金作為進一步的研究對象。
8種原型焊料合金
對8種原型焊料合金進行相同的測試設置,作為初始基準測試。這意味著在不同的PCB 涂飾上用每種焊膏焊接QFNs,用X
射線分析真實的空洞性能。初步測試結果顯示,與標準合金SAC305、LowSAC0307
和Sn42Bi57Ag1相比,空洞率水平顯著降低。試驗合金G具有最低的空洞率,以及最窄的鋪展結果。這一合金被選中做進一步的機械可靠性試驗。
與SAC305
相比,不僅具有低空洞性能,也具有良好的耐沖擊和振動性能以及熱循環性能。此外,該合金也被證明,除了適合回流焊,也適合波峰焊和選擇性焊接。合金G
將以LMPA-Q命名,向商業化發展。
結論
與市場標準的SAC305 和LowSAC0307 合金相比,通過調整合金成分的焊接合金,極大地降低了空洞形成水平。
此外,超低空洞焊料合金LMPA-Q,與今天市場上使用的大多數焊料合金相比,具有更好的熱循環性能和振動性能。
臺灣ELT除泡品類開創者

臺灣ELT作為除泡機品類開創者,深耕半導體先進封裝技術20余年,專注解決半導體先進封裝中的氣泡問題,提供多種制程工藝中的氣泡整體解決方案。對Mini/Micro LED、芯片貼合Die Attached、灌注灌封IGBT Potting、底部填膠underfill、點膠封膠Dispensing、OCA lamination等工藝擁有成熟應用經驗。